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부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADL D# V99:2348_07325133 |
Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 56-Pin SSOP Tube RoHS: Compliant
|
0 |
SN74ABT18245ADLR D# V72:2272_07325134 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments | 3882 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLG4 |
Texas Instruments |
- Rail/Tube |
0 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
Min Qty 1 |
2172 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
Min Qty 1 |
2172 |
SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
IC, SCAN TEST DEVICE, SSOP-56, Logic Type:Scan Test Device, No. of Channels:9, Input Level:2V, Output Level Type:TTL, Logic Case Style:SSOP, No. of Pins:56, Supply Voltage Range:4.5V to 5.5V , RoHS Compliant: Yes |
0 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADL D# 296-3938-5-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP |
38 |
SN74ABT18245ADLR D# 2156-SN74ABT18245ADLR-ND |
Rochester Electronics LLC |
SN74ABT18245A SCAN TEST DEVICES |
6000 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
In stock shipping within 2days |
1000 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADL |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
1160 | |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
3987 |
SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
207 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLR98 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
349 |
SN74ABT18245ADLR99 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
887 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
791 |
SN74ABT18245ADLR0010 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
779 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
438 |
SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1041 |
SN74ABT18245ADLG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
922 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM Immediate delivery |
1000 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADL D# 595-SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device RoHS: Compliant
|
79 |
SN74ABT18245ADLR D# 595-SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device RoHS: Compliant
|
225 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLG4 D# NS-SN74ABT18245ADLG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2892 |
SN74ABT18245ADL D# NS-SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
10177 |
SN74ABT18245ADLRG4 D# NS-SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
6545 |
SN74ABT18245ADLR D# NS-SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1761 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments | 23 | |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
ABT SERIES, DUAL 9-BIT BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PDSO56 |
1737 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADL D# SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
Semiconductor |
73 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
SN74ABT18245A Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers RoHS: Compliant
|
186 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
SN74ABT18245A Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers RoHS: Compliant
|
6000 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
190 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
10333 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2143 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
IN stock Immediate delivery |
995 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers |
4 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers |
1 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLR |
TEXAS |
shipping today |
555 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADL D# 46912204 |
Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 56-Pin SSOP Tube RoHS: Compliant
|
0 |
SN74ABT18245ADLR D# 29727358 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLR |
mfr |
RFQ |
12093 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
RFQ |
6912 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP |
1906 |
Heisener의 품질에 대한 약속은 소싱, 테스트, 선적 및 그 사이의 모든 단계에 대한 프로세스를 형성했습니다. 이 기초는 우리가 판매하는 각 구성 요소의 근간을 이루고 있습니다.
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CONN HEADER 6POS 2.5MM R/A TIN
IC VREF SHUNT 1.225V SOT23
IC GATE OR 4CH 2-INP 14-SO
TVS DIODE 24VWM 50VC 0603
IC OR CTRLR SRC SELECT 24QFN
DIODE ZENER 16V 150MW EMD2
LED 3MM GAP DIFF GRN RA HOUSING
FIXED IND 10UH 1.9A 84.5 MOHM
IC FPGA 195 I/O 256FTBGA
TRIAC 700V 10A TO220AB